Jozef Keckes
Publikationen
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Micromechanical Properties of Micro- and Nanocrystalline CVD Diamond Thin Films with Gradient Microstructures and Stresses
Meindlhumer, M., Ziegelwanger, T., Grau, J., Sternschulte, H., Sztucki, M., Steinmüller-Nethl, D. & Keckes, J., 12 Jan. 2024, in: Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films. 42.2024, 2, 12 S., 023401.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Multimethod cross-sectional characterization approaching the limits of diamond monophase multilayers
Meindlhumer, M., Grau, J., Sternschulte, H., Halahovets, Y., Siffalovic, P., Burghammer, M., Steinmüller-Nethl, D. & Keckes, J., 13 Mai 2024, in: Materials characterization. 212.2024, June, 15 S., 113973.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Resolving the fundamentals of the J-integral concept by multi-method in situ nanoscale stress-strain mapping
Meindlhumer, M., Alfreider, M., Sheshi, N., Hohenwarter, A., Todt, J., Rosenthal, M., Burghammer, M., Salvati, E., Keckes, J. & Kiener, D., 22 Feb. 2025, in: Communications materials. 2025, 6, 15 S., 35.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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A new cantilever technique reveals spatial distributions of residual stresses in near-surface structures
Massl, S., Keckes, J. & Pippan, R., 2008, in: Scripta materialia. 59, S. 503-506Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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A cantilever method to determine depth profiles of residual stresses on the nanoscale
Massl, S., Keckes, J. & Pippan, R., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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A direct method of determining complex depth profiles of residual stresses in thin films on a nanoscale
Massl, S., Keckes, J. & Pippan, R., 2007, in: Acta materialia. 55, S. 4835-4844Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Stress measurement in thin films with the ion beam layer removal method: Influence of experimental errors and parameters
Massl, S., Köstenbauer, H., Keckes, J. & Pippan, R., 2008, in: Thin solid films. 516, S. 8655-8662Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Investigation of fracture properties of magnetron-sputtered TiN films by means of a FIB-based cantilever bending technique
Massl, S., Thomma, W., Keckes, J. & Pippan, R., 2009, in: Acta materialia. 57, S. 1768-1776Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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A new tensile stage for in situ X-ray scattering experiments combined with mechanical tests
Martinschitz, K.-J., Eiper, E., Keckes, J., Boesecke, P., Schwarzl, P. & Hofbauer, P., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Cyclically deformed cellulose films characterized by in situ synchrotron diffraction coupled with tensile tests
Martinschitz, K.-J., Boesecke, P., Gindl, W. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
