20 kHz X-ray diffraction on Cu thin films explores thermomechanical fatigue at high strain-rates

Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

Externe Organisationseinheiten

  • KAI – Kompetenzzentrum Automobil- und Industrieelektronik GmbH
  • Structure and Mechanics of Advanced Materials
  • Paul Scherrer Institut

Details

OriginalspracheEnglisch
Aufsatznummer113664
FachzeitschriftMaterials and Design
Jahrgang251
DOIs
StatusVeröffentlicht - März 2025