A direct method of determining complex depth profiles of residual stresses in thin films on a nanoscale
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| Titel in Übersetzung | A direct method of determining complex depth profiles of residual stresses in thin films on a nanoscale |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Seiten (von - bis) | 4835-4844 |
| Fachzeitschrift | Acta materialia |
| Jahrgang | 55 |
| Status | Veröffentlicht - 2007 |
