Jozef Keckes
Publikationen
- 2004
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Residual stresses and size-strain phenomena in thermally cycled Cu layers on anisotropical SiO2(110) substrates
Eiper, E., Hafok, M., Eisenmenger-Sittner, C. & Keckes, J., 2004.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Room temperature deposition of (Ti,Al)N and (Ti,Al)(C,N) coatings by pulsed laser deposition for tribological applications
Lackner, J. M., Waldhauser, W., Ebner, R., Keckes, J. & Schöberl, T., 2004, in: Surface & coatings technology. 177-178, S. 447-452Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Simultaneous evaluation of elastic and thermal strains in thermally-cycled thin films
Keckes, J., 2004.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Small Angle X-Ray Scattering with Cobalt Radiation for Nanostructure Characterization of Fe-Based Specimen
Erlacher, K., Görgl, R., Keckes, J., Jakob, H., Bruegemann, L., Doppler, P., Bermann, A., Leitner, H., Marsoner, S. & Fratzl, P., 2004, in: Materials Science Forum . 443-444, S. 155-158Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structure-function relationships of four compression wood types: micromechanical properties at the tissue and fibre level
Burgert, I., Frühmann, K., Keckes, J., Fratzl, P. & Stanzl-Tschegg, S., 2004, in: Trees : structure and function. 18, S. 480-485Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Temperature dependence of in-plane stresses in sublayers of Al/AlN/Al2O3(0 0 0 1) structure
Keckes, J., Six, S., Gerlach, J. W. & Rauschenbach, B., 2004, in: Journal of crystal growth. 262, S. 119-123Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Tensile properties of cellulose acetate butyrate composites reinforced with bacterial cellulose
Gindl, W. & Keckes, J., 2004, in: Composites science and technology. 64, S. 2407-2413Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Thermally-induced stresses in thin aluminum layers grown on silicon
Eiper, E., Resel, R., Eisenmenger-Sittner, C., Hafok, M. & Keckes, J., 2004, in: Powder diffraction. S. 74-76Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)