Powder diffraction, 0885-7156
Fachzeitschrift: Zeitschrift
| ISSNs | 0885-7156 |
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1 - 5 von 5Seitengröße: 10
Publikationen
- 2016
- Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
Curvature determination of embedded silicon chips by in situ rocking curve X-ray diffraction measurements at elevated temperatures
Angerer, P., Schöngrundner, R., Macurova, K., Wießner, M. & Keckes, J., 28 Sept. 2016, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Powder diffraction. 31.2016, 4, S. 267-273 7 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2006
- Veröffentlicht
Combined elastic strain and macroscopic stress characterization in polycrystalline Cu thin films
Eiper, E., Martinschitz, K-J. & Keckes, J., 2006, in: Powder diffraction. 21, S. 25-29Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2005
- Veröffentlicht
Combined elastic strain and macroscopic stress characterization in polycrystalline Cu thin films
Eiper, E., Martinschitz, K-J. & Keckes, J., 2005, in: Powder diffraction. 20, S. 1-5Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2004
- Veröffentlicht
Evaluation of experimental stress-strain dependence in thermally cycled Al thin film on Si(100)
Keckes, J., Hafok, M., Eiper, E., Hofer, A., Resel, R. & Eisenmenger-Sittner, C., 2004, in: Powder diffraction. 19, S. 367-371Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Thermally-induced stresses in thin aluminum layers grown on silicon
Eiper, E., Resel, R., Eisenmenger-Sittner, C., Hafok, M. & Keckes, J., 2004, in: Powder diffraction. S. 74-76Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
