Jozef Keckes
Publikationen
- 2006
- Veröffentlicht
Temperature dependence of residual stresses in thin films determined by the substrate
Eiper, E., Martinschitz, K.-J., Köstenbauer, H., Massl, S. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Temperature dependence of residual stresses in thin films determined by the substrate curvatur method
Eiper, E., Martinschitz, K.-J., Köstenbauer, H., Massl, S. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Texture changes in cyclically deformed cellulosics characterized by in-situ synchrotron diffraction coupled with tensile tests
Martinschitz, K.-J., Boesecke, P., Gindl, W. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Zukunftsfonds Land Steiermark, Projekt Nr. 119
Eiper, E., Keckes, J. & Pippan, R., 2006Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
- 2005
- Veröffentlicht
All-cellulose nanocomposite
Gindl, W. & Keckes, J., 2005, in: Polymer. 46, S. 10221-10225Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Anisotropic intrinsic and extrinsic stresses in epitaxial wurzitic GaN thin film on γ-LiAlO2 (100)
Eiper, E., Hofmann, A., Gerlach, J. W., Rauschenbach, B. & Keckes, J., 2005, in: Journal of crystal growth. 284, S. 561-566Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Combined elastic strain and macroscopic stress characterization in polycrystalline Cu thin films
Eiper, E., Martinschitz, K.-J. & Keckes, J., 2005, in: Powder diffraction. 20, S. 1-5Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Eigenspannungs-Charakterisierung mittels Röntgendiffraktometrie
Keckes, J. & Eiper, E., 2005, Handbuch der Nanoanalytik. S. 147-149Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
- Veröffentlicht
Hardness Limits of SiC and Si3N4 Ceramic Materials
Balog, M., Sajgalík, P., Lencés, Z., Hnatko, M. & Keckes, J., 2005, Key engineering materials. Band 59. S. 247-251 (Key engineering materials).Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
- Veröffentlicht
Hochtemperatur-Röntgendiffraktion - Spannungen und Deformationen in dünnen Aluminium-Schichten auf Silizium
Resch, C., Keckes, J., Eiper, E. & Resel, E., 2005, Handbuch der Nanoanalytik. S. 170-172Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung