Temperature dependence of residual stresses in thin films determined by the substrate curvatur method
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Autoren
Organisationseinheiten
Details
| Titel in Übersetzung | Temperature dependence of residual stresses in thin films determined by the substrate curvatur method |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Status | Veröffentlicht - 2006 |
| Veranstaltung | 7th European Conference Residual Stresses ECRS7 - Berlin, Deutschland Dauer: 13 Sept. 2006 → 15 Sept. 2006 |
Konferenz
| Konferenz | 7th European Conference Residual Stresses ECRS7 |
|---|---|
| Land/Gebiet | Deutschland |
| Ort | Berlin |
| Zeitraum | 13/09/06 → 15/09/06 |
