Jozef Keckes
Publikationen
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Nano-Beam X-ray Diffraction Reveals Structural and Mechanical Gradients in Nano-Crystalline Thin Films
Keckes, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Maier, G., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Nano-beam-x-ray diffraction reveals strain, composition, texture and crystal size gradients across nano-crystalline thin films
Keckes, J., Daniel, R., Bartosik, M., Mitterer, C., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2011, Proceeding of International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 55-55Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Nano-Beam X-ray Diffraction as a Tool to Characterize Gradients of Microstructure and Residual Stress in Nanocrystalline Hard Coatings
Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Schoeder, S., Burghammer, M. & Keckes, J., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Nanobeam electron diffraction strain mapping in monocrystalline silicon of modern trench power MOSFETs
Karner, S., Blank, O., Rösch, M., Zalesak, J., Keckes, J. & Gammer, C., 2022, in: Microelectronic engineering. 264.2022, 15 August, 111870.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Multi-scale interface design of strong and damage resistant hierarchical nanostructured materials
Daniel, R., Meindlhumer, M., Zalesak, J., Baumegger, W., Todt, J., Ziegelwanger, T., Keckes, J., Mitterer, C. & Keckes, J., Nov. 2020, in: Materials and Design. 196, November, S. 1-11 109169.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Multimethod cross-sectional characterization approaching the limits of diamond monophase multilayers
Meindlhumer, M., Grau, J., Sternschulte, H., Halahovets, Y., Siffalovic, P., Burghammer, M., Steinmüller-Nethl, D. & Keckes, J., 13 Mai 2024, in: Materials characterization. 212.2024, June, 15 S., 113973.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Mono-textured nanocrystalline thin films with pronounced stress-gradients: On the role of grain boundaries in the stress evolution
Daniel, R., Jäger, E., Todt, J., Sartory, B., Mitterer, C. & Keckes, J., 28 Mai 2014, in: Journal of applied physics. 115, 20, 203507.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Modification of wetting of copper (Cu) on carbon (C) by plasma treatment and molybdenum (Mo)interlayers
Eisenmenger-Sittner, C., Schrank, C., Neubauer, E., Eiper, E. & Keckes, J., 2006, in: Applied surface science. 252, S. 5343-5346Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Micro tensile tests: New insights based on µDiffraction
Kirchlechner, C., Motz, C., Grosinger, W., Labat, S., Perroud, O., Thomas, O., Micha, J.-S., Ulrich, O., Dehm, G. & Keckes, J., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Microstructure related stress state in magnetron sputtered thin films
Daniel, R., Martinschitz, K., Keckes, J. & Mitterer, C., 2009, Proceedings E-MRS Spring Meeting. S. 25-25Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
