Stefan Karner
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Neuester Forschungsoutput
Strain Engineering in Trench Power MOSFETs: Characterization and Optimization of Mechanical and Electrical Transistor Properties
Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
X-ray nanodiffraction analysis of residual stresses in polysilicon electrodes of vertical power transistors
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Nanobeam electron diffraction strain mapping in monocrystalline silicon of modern trench power MOSFETs
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