Nano-Beam X-ray Diffraction Reveals Structural and Mechanical Gradients in Nano-Crystalline Thin Films
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
Autoren
Organisationseinheiten
Details
| Titel in Übersetzung | Nano-Beam X-ray Diffraction Reveals Structural and Mechanical Gradients in Nano-Crystalline Thin Films |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Status | Veröffentlicht - 2010 |
| Veranstaltung | Applications of X-ray Analysis - Denver, USA / Vereinigte Staaten Dauer: 2 Okt. 2010 → 6 Okt. 2010 |
Konferenz
| Konferenz | Applications of X-ray Analysis |
|---|---|
| Land/Gebiet | USA / Vereinigte Staaten |
| Ort | Denver |
| Zeitraum | 2/10/10 → 6/10/10 |
