Nano-Beam X-ray Diffraction as a Tool to Characterize Gradients of Microstructure and Residual Stress in Nanocrystalline Hard Coatings
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
Autoren
Organisationseinheiten
Details
| Titel in Übersetzung | Nano-Beam X-ray Diffraction as a Tool to Characterize Gradients of Microstructure and Residual Stress in Nanocrystalline Hard Coatings |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Status | Veröffentlicht - 2011 |
| Veranstaltung | Size and Strain VI - Diffraction Analysis of the Microstructure of Materials - Hyères, Frankreich Dauer: 16 Okt. 2011 → … |
Konferenz
| Konferenz | Size and Strain VI - Diffraction Analysis of the Microstructure of Materials |
|---|---|
| Land/Gebiet | Frankreich |
| Ort | Hyères |
| Zeitraum | 16/10/11 → … |
