Jozef Keckes
Publikationen
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Cross-sectional characterization techniques as the basis for knowledge-based design of graded CVD TiN-TiB2 coatings
Tkadletz, M., Schalk, N., Mitterer, C., Hofer, C., Keckes, J., Deluca, M., Pohler, M. & Czettl, C., 2017.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
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Cross-sectional characterization techniques as the basis for knowledge-based design of graded CVD TiN-TiB2 coatings
Tkadletz, M., Schalk, N., Mitterer, C., Keckes, J., Pohler, M. & Czettl, C., 2018, in: International journal of refractory metals & hard materials. 71, S. 280-284Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Cross-sectional characterization techniques as the basis for knowledge-based design of graded CVD TiN-TiB2 coatings
Tkadletz, M., Schalk, N., Mitterer, C., Keckes, J., Pohler, M. & Czettl, C., 2017, 19th Plansee Seminar. S. 88/1-88/9Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Cross-sectional gradients of residual stresses, microstructure and phases in a nitrided steel revealed by 20 µm synchrotron X-ray diffraction
Bodner, S. C., Ziegelwanger, T., Meindlhumer, M., Holcova, J., Todt, J., Schell, N. & Keckes, J., Okt. 2019, in: Metallurgia Italiana. 2019, 10, S. 7-11 5 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Cross-sectional stress distribution in AlxGa1-xN heterostructure on Si(111) substrate characterized by ion beam layer removal method and precession electron diffraction
Reisinger, M., Zalesak, J., Daniel, R., Tomberger, M., Weiss, J. K., Darbal, A. D., Petrenec, M., Zechner, J., Daumiller, I., Ecker, W., Sartory, B. & Keckes, J., 2016, in: Materials and Design. 106, S. 476-481 6 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Cross-sectional X-ray nanobeam diffraction analysis of a compositionally graded CrNx thin film
Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Matko, I., Burghammer, M., Mayrhofer, P. H. & Keckes, J., 2013, in: Thin solid films. 542, S. 1-4Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Cu diffusion into single-crystalline TiN studied by transmission electron microscopy and atom probe tomography
Mühlbacher, M., Mendez Martin, F., Sartory, B., Schalk, N., Keckes, J., Lu, J., Hultman, L. & Mitterer, C., 2014.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
- Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
Curvature determination of embedded silicon chips by in situ rocking curve X-ray diffraction measurements at elevated temperatures
Angerer, P., Schöngrundner, R., Macurova, K., Wießner, M. & Keckes, J., 28 Sept. 2016, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Powder diffraction. 31.2016, 4, S. 267-273 7 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Cyclically deformed cellulose films characterized by in situ synchrotron diffraction coupled with tensile tests
Martinschitz, K.-J., Boesecke, P., Gindl, W. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Dark-field X-ray microscopy reveals mosaicity and strain gradients across sub-surface TiC and TiN particles in steel matrix composites
Hlushko, K., Keckes, J., Ressel, G., Pörnbacher, J., Ecker, W., Kutsal, M., Cook, P. K., Detlefs, C. & Yildirim, C., 2020, in: Scripta materialia. 187.2020, October, S. 402-406 5 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
