Igor Beinik

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Publikationen

  1. 2013
  2. Veröffentlicht

    Photoresponse from single upright-standing ZnO nanorods explored by photoconductive AFM

    Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Piryatinski, Y. P., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F., Djurišić, A. B. & Teichert, C., 17 Apr. 2013, in: Beilstein journal of nanotechnology. 4, 1, S. 208-217 10 S.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Photoresponse from single upright standing ZnO nanorods explored by photoconductive atomic force microscopy

    Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Wachauer, A., Wang, L., Pyriatinsky, Y. P., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F. & Djurisic, A., 2013, in: Beilstein journal of nanotechnology . 4, S. 208-217

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  4. 2012
  5. Veröffentlicht

    Erratum: Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy (Journal of Applied Physics (2011) 110 (052005))

    Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Lechner, R., Teichert, C., Motz, C., Anwand, W., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 1 Okt. 2012, in: Journal of applied physics. 112.2012, 7, 1 S., 079903.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Entscheidungsbesprechung › (peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    Electrical and photovoltaic properties of self assembled Ge nanodomes on Si(001)

    Kratzer, M., Prehal, C., Rubezhanska, M., Beinik, I., Kondratenko, S., Kozyrev, Y. & Teichert, C., 2012, in: Physical review : B, Condensed matter and materials physics. 86, S. 245320-1-245320-7

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Ion beam irradiation of cuprate high-temperature superconductors: Systematic modification of the electrical properties and fabrication of nanopatterns

    Lang, W., Marksteiner, M., Bodea, M. A., Siraj, K., Pedarnig, J. D., Kolarova, R., Bauer, P., Hasengrübler, K., Hasenfuss, C., Beinik, I. & Teichert, C., 2012, in: Nuclear instruments & methods in physics research / B Beam interactions with materials and atoms. 272, S. 300-304

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  8. 2011
  9. Veröffentlicht

    Characterization of antiphase domains on GaAs grown on Ge substrates by conductive atomic force microscopy for photovoltaic applications

    Galiana, B., Rey-Stolle, I., Beinik, I., Teichert, C., Algora, C., Molina-Aldareguia, J. M. & Tejedor, P., 2011, in: Solar energy materials and solar cells. 95, S. 1949-1954

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Conductive Atomic-Force Microscopy Investigation of Nanostructures in Microelectronics

    Teichert, C. & Beinik, I., 2011, Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2. S. 691-721

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung

  11. Veröffentlicht

    Electrical Characterization of Semiconductor Nanostructures by Conductive Probe Based Atomic Force Microscopy Techniques

    Beinik, I., 2011, 118 S.

    Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation

  12. Veröffentlicht

    Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy

    Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Lechner, R., Teichert, C., Motz, C., Anwand, W., Brauer, G., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djuricis, A., 2011, in: Journal of applied physics. 110, S. 052005-1-052005-7

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  13. Veröffentlicht

    Electrical Transport of Single ZnO Nanorods studied by Photo- Conductive AFM

    Kratzer, M., Beinik, I., Teichert, C., Brauer, G., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djuricis, A., 2011.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  14. Veröffentlicht

    Testmessungen mittels Leitfähigkeitsrasterkraftmikroskopie an 30 µm x 1600µm

    Beinik, I. & Teichert, C., 2011

    Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)

  15. 2010
  16. Veröffentlicht

    AFM based morphological and electrical characterization of hot wall epitaxy grown 6P/SiO2

    Kratzer, M., Klima, S., Beinik, I., Shen, Q., Lugstein, A. & Teichert, C., 2010.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  17. Veröffentlicht

    Combined C-AFM/PFM investigations of ZnO nanorods

    Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  18. Veröffentlicht

    Complementary electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge: KPFM and C-AFM exploration

    Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Rey-Stolle, I., Algora, C., Tejedor, P. & Teichert, C., 2010.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  19. Veröffentlicht

    Electrical, electro-mechanical and opto-electronical properties of ZnO nanorods studied by AFM technique

    Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  20. Veröffentlicht

    Nanoscale electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge

    Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Teichert, C., Rey-Stolle, I., Algora, C. & Tejedor, P., 2010, in: Journal of vacuum science & technology / B (JVST). 28, S. C5G5-C5G10

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  21. Veröffentlicht

    Scanning Probe Microscopy-based Characterization of ZnO Nanorods

    Teichert, C., Hou, Y., Beinik, I., Chen, Y., Djuricis, A., Anwand, W. & Brauer, G., 2010, Abstract CD IEEE International NanoElectronics Conference (INEC 2010). S. 438-439

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband

  22. Veröffentlicht

    Surface planarization and masked ion-beam structuring of YBa2Cu3O7 thin films

    Pedarnig, J. D., Siraj, K., Bodea, M. A., Puica, I., Lang, W., Kolarova, R., Bauer, P., Haselgrübler, K., Hasenfuss, C., Beinik, I. & Teichert, C., 2010, in: Thin solid films. 518, S. 7075-7080

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  23. 2009
  24. Veröffentlicht

    Application of conductive AFM technique to measure electrical conductance of tribofilms

    Pondicherry, K., Beinik, I., Grün, F., Godor, I. & Teichert, C., 2009, Proceedings of 26th Danubia-Adria Symposium on Advances in Experimental Mechanics. S. 205-206

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband

  25. Veröffentlicht

    Application of conductive AFM technique to measure electrical conductance of tribofilms

    Pondicherry, K., Beinik, I., Grün, F., Godor, I. & Teichert, C., 2009.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  26. Veröffentlicht

    Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic force microscopy

    Kratzer, M., Beinik, I., Teichert, C., Wang, L., Brauer, G. & Anwand, W., 2009.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  27. Veröffentlicht

    Characterization of ZnO nanostructures: A challenge to positron annihilation spectroscopy and other methods

    Brauer, G., Anwand, W., Grambole, D., Beinik, I., Wang, L., Teichert, C., Kuriplach, J., Djurisic, A. & Skorupa, W., 2009, in: Physica status solidi / C. 6, S. 2556-2560

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  28. Veröffentlicht

    Conductive atomic force microscopy study of InAs growth kinetics on vicinal GaAs (110)

    Tejedor, P., Díez-Merino, L., Beinik, I. & Teichert, C., 2009, in: Applied physics letters. 95, S. 123103-1-123103-3

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  29. Veröffentlicht

    Origin of the low-energy emission band in epitaxially grown para-sexiphenyl nanocrystallites

    Kadashchuk, A., Schols, S., Heremans, P., Skryshevski, Y., Piryantinski, Y., Beinik, I., Teichert, C., Hernandez-Sosa, G., Sitter, H., Andreev, A., Frank, P. & Winkler, A., 2009, in: Journal of chemical physics (The journal of chemical physics). 130, S. 084901-1-084901-9

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  30. Veröffentlicht

    Spectroscopy of defects in epitaxially grown para-sexiphenyl nanostructures

    Kadashchuk, A., Schols, S., Skryshevski, Y., Beinik, I., Teichert, C., Hernandez-Sosa, G., Sitter, H., Andreev, A., Frank, P. & Winkler, A., 2009, Interface Controlled Organic Thin Films. S. 121-125 (Springer proceedings in physics; Band 129).

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband

  31. Veröffentlicht

    Spectroscopy of Defects in Epitaxially Grown Para-sexiphenyl Nanostructures

    Kadashchuk, A., Skryshevski, Y., Beinik, I., Teichert, C., Hernandez-Sosa, G., Sitter, H., Andreev, A., Frank, P. & Winkler, A., 2009, EMRS Symposium O. S. 121-125

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband

  32. 2008
  33. Veröffentlicht

    Conductive AFM investigations of self-patterned InGaAs/GaAs(110) nanostructures

    Beinik, I., Teichert, C., Díez-Merino, L. & Tejedor, P., 2008.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  34. Veröffentlicht

    Spatially resolved electrical characterization of InAs and InGaAs nanostructures by Conductive-AFM and Kelvin probe microscopz

    Tejedor, P., Vázquez, L., Díez-Merino, L., Beinik, I. & Teichert, C., 2008.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

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