Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic force microscopy
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Details
Titel in Übersetzung | Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic force microscopy |
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Originalsprache | Englisch |
Status | Veröffentlicht - 2009 |
Veranstaltung | ÖPG Jahrestagung 2009 - Innsbruck Dauer: 2 Sept. 2009 → 4 Sept. 2009 |
Konferenz
Konferenz | ÖPG Jahrestagung 2009 |
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Ort | Innsbruck |
Zeitraum | 2/09/09 → 4/09/09 |