Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic force microscopy
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic force microscopy. / Kratzer, Markus; Beinik, Igor; Teichert, Christian et al.
2009. Postersitzung präsentiert bei ÖPG Jahrestagung 2009, Innsbruck.
2009. Postersitzung präsentiert bei ÖPG Jahrestagung 2009, Innsbruck.
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Kratzer, M, Beinik, I, Teichert, C, Wang, L, Brauer, G & Anwand, W 2009, 'Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic force microscopy', ÖPG Jahrestagung 2009, Innsbruck, 2/09/09 - 4/09/09.
APA
Kratzer, M., Beinik, I., Teichert, C., Wang, L., Brauer, G., & Anwand, W. (2009). Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic force microscopy. Postersitzung präsentiert bei ÖPG Jahrestagung 2009, Innsbruck.
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Kratzer M, Beinik I, Teichert C, Wang L, Brauer G, Anwand W. Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic force microscopy. 2009. Postersitzung präsentiert bei ÖPG Jahrestagung 2009, Innsbruck.
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@conference{c07a2fceb521430e86162add4db8c4a4,
title = "Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic force microscopy",
author = "Markus Kratzer and Igor Beinik and Christian Teichert and Lin Wang and Gerhard Brauer and Wolfgang Anwand",
year = "2009",
language = "English",
note = "{\"O}PG Jahrestagung ; Conference date: 02-09-2009 Through 04-09-2009",
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TY - CONF
T1 - Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic force microscopy
AU - Kratzer, Markus
AU - Beinik, Igor
AU - Teichert, Christian
AU - Wang, Lin
AU - Brauer, Gerhard
AU - Anwand, Wolfgang
PY - 2009
Y1 - 2009
M3 - Poster
T2 - ÖPG Jahrestagung
Y2 - 2 September 2009 through 4 September 2009
ER -
