AFM based morphological and electrical characterization of hot wall epitaxy grown 6P/SiO2
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Autoren
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Details
| Titel in Übersetzung | AFM based morphological and electrical characterization of hot wall epitaxy grown 6P/SiO2 |
|---|---|
| Originalsprache | Deutsch |
| Status | Veröffentlicht - 2010 |
| Veranstaltung | 60. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft - Salzburg, Österreich Dauer: 6 Sept. 2010 → 10 Sept. 2010 |
Konferenz
| Konferenz | 60. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft |
|---|---|
| Kurztitel | ÖPG 2010 |
| Land/Gebiet | Österreich |
| Ort | Salzburg |
| Zeitraum | 6/09/10 → 10/09/10 |
