Scanning Probe Microscopy-based Characterization of ZnO Nanorods
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Autoren
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Details
| Titel in Übersetzung | Scanning Probe Microscopy-based Characterization of ZnO Nanorods |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Titel | Abstract CD IEEE International NanoElectronics Conference (INEC 2010) |
| Seiten | 438-439 |
| Status | Veröffentlicht - 2010 |
