Complementary electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge: KPFM and C-AFM exploration
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Details
| Titel in Übersetzung | Complementary electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge: KPFM and C-AFM exploration |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Status | Veröffentlicht - 2010 |
| Veranstaltung | 16th International Winterschool on New Developments in Solid State Physics: Low Dimensional Systems "Mauterndorf 2010" - Mauterndorf, Österreich Dauer: 22 Feb. 2010 → 26 Feb. 2010 |
Konferenz
| Konferenz | 16th International Winterschool on New Developments in Solid State Physics: Low Dimensional Systems "Mauterndorf 2010" |
|---|---|
| Land/Gebiet | Österreich |
| Ort | Mauterndorf |
| Zeitraum | 22/02/10 → 26/02/10 |
