Karl Christian Teichert

Publikationen

  1. 2010
  2. Veröffentlicht

    AFM based morphological and electrical characterization of hot wall epitaxy grown 6P/SiO2

    Kratzer, M., Klima, S., Beinik, I., Shen, Q., Lugstein, A. & Teichert, C., 2010.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    AFM-Untersuchungen zufallsrauher Polymeroberflächen

    Miskovic, O., Schmied, F. & Teichert, C., 2010

    Publikationen: Buch/BerichtForschungsberichtTransfer(peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Atomic force microscopy as metrology tool for identificationof phases in two- or multi-component polymer systems

    Weber, A., Resch, K. & Teichert, C., 2010, 10th Austrian Polymer Meeting and 2nd Joint Austrian-Slovenian Polymer Meeting. S. 64-67

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Konferenzband

  5. Veröffentlicht

    Atomic force microscopy studies on the morphology of polymeric thermotropic glazings for overheating protection applications

    Weber, A., Resch, K. & Teichert, C., 2010, Polymeric Materials 2010. S. 0-0

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Konferenzband

  6. Veröffentlicht

    C-AFM and FFM measurements of tribological samples

    Shen, Q. & Teichert, C., 2010

    Publikationen: Buch/BerichtForschungsberichtTransfer(peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Characterization of Kraft Pulp Fiber Surfaces using Higher Harmonic Atomic Force Microscopy

    Schmied, F., Teichert, C., Kappel, L., Hirn, U. & Schennach, R., 2010.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Combined C-AFM/PFM investigations of ZnO nanorods

    Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht

    Complementary electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge: KPFM and C-AFM exploration

    Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Rey-Stolle, I., Algora, C., Tejedor, P. & Teichert, C., 2010.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Domain Orientation Characterization of Para-sexiphenyl and Tiophene based SAM Films by Transverse Shear Microscopy

    Shen, Q., Hlawacek, G., Kratzer, M., Flesch, H-G., Potocar, T., Resel, R., Winkler, A. & Teichert, C., 2010.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  11. Veröffentlicht