Karl Christian Teichert
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Publikationen
- 2003
- Veröffentlicht
Modification and characterization of thin silicon gate oxides using conducting atomic force microscopy
Kremmer, S., Peissl, S., Teichert, C., Kuchar, F. & Hofer, C., 2003, in: Materials science and engineering B (Solid-state materials for advanced technology). 102, S. 88-93Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Molecular alignments in sexiphenyl thin films epitaxially grown on muscovite
Plank, H., Resel, R., Sitter, H., Andreev, A., Sariciftci, N. S., Hlawacek, G., Teichert, C., Thierry, A. & Lotz, B., 2003, in: Thin solid films. 443, S. 108-114Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2002
- Veröffentlicht
35th IUVSTA Workshop “Pattern Formation and Atomic Processes in Epitaxial Growth and Ion Erosion”
Teichert, C. (Hrsg.), 2002, Eigenverlag.Publikationen: Buch/Bericht › Sammelband › Forschung
- Veröffentlicht
Characterization of silicon gate oxides by conducting atomic-force microscopy
Kremmer, S., Teichert, C., Pischler, E., Gold, H., Kuchar, F. & Schatzmayr, M., 2002, in: Surface and interface analysis. 33, S. 168-172Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2000
- Veröffentlicht
Pattern formation in PbTe multilayer films
Teichert, C., Jamnig, B. D. & Oswald, J., 2000, in: Surface Science. S. 823-826Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 1999
- Veröffentlicht
Ferromagnetic data store free from problems of relative positioning of a read-write device with a storage device
Teichert, C., 30 Sept. 1999Publikationen: Patent › Patentschrift
