Atomic force microscopy as metrology tool for identificationof phases in two- or multi-component polymer systems
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Titel in Übersetzung | Atomic force microscopy as metrology tool for identificationof phases in two- or multi-component polymer systems |
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Originalsprache | Englisch |
Titel | 10th Austrian Polymer Meeting and 2nd Joint Austrian-Slovenian Polymer Meeting |
Seiten | 64-67 |
Status | Veröffentlicht - 2010 |