Karl Christian Teichert
Publikationen
- 2010
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Jahresbericht 2009 Leuchtturm Nanogrowth
Teichert, C., 2010Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Kontaktwinkelmessung an glatten Stahloberflaechen ausgelagert in Ca(OH)2
Schmied, F. & Teichert, C., 2010Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie
Teichert, C., 2010, Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2010. S. 72-74Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
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Magnetkraftmikroskopie
Teichert, C., 2010, Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2010. S. 75-77Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
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Mechanisms for self-assembling topography formation in low-temperature vacuum deposition of inorganic coatings on polymer surfaces
Lackner, J., Waldhauser, W., Teichert, C. & Schmied, F., 2010, in: Bulletin of the Polish Academy of Sciences / Technical sciences. 58, S. 281-294Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Modulation of the Chemical and Physical Properties of Thin Polymer Films via UV-light
Grießer, T., Edler, M., Köpplmayr, T., Muhr, N., Kern, W., Trimmel, G., Shen, Q., Teichert, C., Flesch, H-G., Marchl, M., Zojer, E., Resel, R., Sosa, G. H., Simbrunner, C., Sitter, H., Track, A., Koller, G. & Ramsey, M. G., 2010, Book of Abstracts. S. 48-48Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Morphologie-Analyse selbstorganisierter Halbleiter-Nanostrukturen
Teichert, C., 2010, Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2010. S. 226-228Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
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Morphology characterization and friction coefficient determination of sputtered V2O5 films
Klünsner, T., Shen, Q., Hlawacek, G., Teichert, C., Fateh, N., Fontalvo, G. & Mitterer, C., 2010, in: Thin solid films. 519, S. 1416-1420Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Nanoscale electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge
Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Teichert, C., Rey-Stolle, I., Algora, C. & Tejedor, P., 2010, in: Journal of vacuum science & technology / B (JVST). 28, S. C5G5-C5G10Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Nanoscale modification of friction properties on HOPG induced by slow highly charged ions.
Ritter, R., Shen, Q., Kowarik, G., Ginzel, R., Lebius, H., Maunoury, L., Toulemonde, M., Dufour, C., López-Urrutia, J. R. C., Teichert, C. & Aumayr, F., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
