Karl Christian Teichert
301 - 310 von 506Seitengröße: 10
Publikationen
- 2009
- Veröffentlicht
Characterization of ZnO nanostructures: A challenge to positron annihilation spectroscopy and other methods
Brauer, G., Anwand, W., Grambole, D., Beinik, I., Wang, L., Teichert, C., Kuriplach, J., Djurisic, A. & Skorupa, W., 2009, in: Physica status solidi / C. 6, S. 2556-2560Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of ZnO nanostructures: A challenge to positron annihilation spectroscopy and other methods
Teichert, C., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic force microscopy
Kratzer, M., Beinik, I., Teichert, C., Wang, L., Brauer, G. & Anwand, W., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic microscopy
Teichert, C., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Charcterization of kraft pulp fiber surfaces using atomic force microscopy
Schmied, F., Teichert, C., Kappel, L., Hirn, U. & Schennach, R., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Comparative AFM and SEM investigations on kraft pulp fiber surfaces
Schmied, F., Teichert, C., Kappel, L., Hirn, U., Schennach, R. & Schröttner, H., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Conductive Atomic Force Microscopy investigations of organic thin films
Pavitschitz, A., Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Schwabegger, G., Sitter, H., Simbrunner, C., Grießer, T. & Kern, W., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Conductive atomic force microscopy study of InAs growth kinetics on vicinal GaAs (110)
Tejedor, P., Díez-Merino, L., Beinik, I. & Teichert, C., 2009, in: Applied physics letters. 95, S. 123103-1-123103-3Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Defektbildung und Ladungsträgereinfang in epitaktisch gewachsenen organischen Nanostrukturen
Teichert, C., 2009Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Domain Orientation Characterization of Para-sexiphenyl and Tiophene based SAM Films by Transverse Shear Microscopy
Shen, Q., Hlawacek, G., Flesch, H-G., Potocar, T., Resel, R., Winkler, A. & Teichert, C., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
