Dopovidi Nacional'noï Akademiï Nauk Ukraïny , 1025-6415
Fachzeitschrift: Zeitschrift
| ISSNs | 1025-6415 |
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Publikationen
- 2010
- Veröffentlicht
Investigation of Si and Ge nanocluster systems on the surface SiOx/Si prepared by molecular beam epitaxy
Kozyrev, Y. N., Rubezhanska, M. Y., Sklyar, V. K., Kartel, M. T., Dmitruk, N. V., Teichert, C. & Hofer, C., 2010, in: Dopovidi Nacional'noï Akademiï Nauk Ukraïny . S. 71-76Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
