Karl Christian Teichert
Publikationen
- 2012
- Veröffentlicht
Utilizing atomic force microscopy to characterize various single fiber-fiber bonds
Schmied, F., Ganser, C., Fischer, W., Hirn, U., Bauer, W., Schennach, R. & Teichert, C., 2012, Utilizing atomic force microscopy to characterize various single fiber-fiber bonds. S. 141-143Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Wzrost molekul para-sexiphenylu na zmodykowanej wiazka jonowa powierzchni TiO2 (110)
Wrana, D., Kratzer, M., Teichert, C. & Krok, F., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Ätzstudien und KPFM korrelation auf ZnO-Varistoren
Nevosad, A. & Teichert, C., 2012Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
- 2011
- Veröffentlicht
AFM Based Investigations of ZnO Varistor Ceramics
Pavitschitz, A., Hofstätter, M., Supancic, P., Athenstaedt, W., Auer, C. & Teichert, C., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Annealing of Para-Sexiphenyl on Silicon Dioxide Surfaces.
Lorbek, S., Shen, Q. & Teichert, C., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
C-AFM auf ZnO Varistoren
Pavitschitz, A. & Teichert, C., 2011Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Carrier transfer effect on transport in p-i-n structures with Ge quantum dots
Lysenko, V. S., Gomeniuk, Y. V., Strelchuk, V. V., Nikolenko, A. S., Kondratenko, S. V., Kozyrev, Y. N., Rubezhanska, M. Y. & Teichert, C., 2011, in: Physical review : B, Condensed matter and materials physics. 84, S. 115425-1-15425-9Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of antiphase domains on GaAs grown on Ge substrates by conductive atomic force microscopy for photovoltaic applications
Galiana, B., Rey-Stolle, I., Beinik, I., Teichert, C., Algora, C., Molina-Aldareguia, J. M. & Tejedor, P., 2011, in: Solar energy materials and solar cells. 95, S. 1949-1954Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Conductive Atomic-Force Microscopy Investigation of Nanostructures in Microelectronics
Teichert, C. & Beinik, I., 2011, Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2. S. 691-721Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
- Veröffentlicht
Contact angle and AFM roughness measurements of polymer coated steel samples
Lugger, M. & Teichert, C., 2011Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
