Jozef Keckes
Publikationen
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Thermally-induced stresses in thin aluminum layers grown on silicon
Eiper, E., Resel, R., Eisenmenger-Sittner, C., Hafok, M. & Keckes, J., 2004, in: Powder diffraction. S. 74-76Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Anisotropic intrinsic and extrinsic stresses in gan thin film on LiAlO2 (100)
Eiper, E., Gerlach, J. W., Rauschenbach, B. & Keckes, J., 2004.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Temperature dependence of residual stresses in thin films determined by the substrate
Eiper, E., Martinschitz, K.-J., Köstenbauer, H., Massl, S. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Temperature dependence of residual stresses in thin films determined by the substrate curvatur method
Eiper, E., Martinschitz, K.-J., Köstenbauer, H., Massl, S. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Size effect in metallic thin films characterized by low-temperature X-ray diffraction
Eiper, E., Martinschitz, K. J., Dehm, G. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Anisotropic intrinsic and extrinsic stresses in epitaxial wurzitic GaN thin film on γ-LiAlO2 (100)
Eiper, E., Hofmann, A., Gerlach, J. W., Rauschenbach, B. & Keckes, J., 2005, in: Journal of crystal growth. 284, S. 561-566Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray elastic constants determined by the combination of the sin² psi and substrate-curvature methods
Eiper, E., Martinschitz, K.-J., Gerlach, J. W., Lackner, J. M., Zizak, I., Darowski, N. & Keckes, J., 2005, in: Zeitschrift für Metallkunde : international journal of materials research and advanced techniques. 96, S. 1069-1073Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Combined elastic strain and macroscopic stress characterization in polycrystalline Cu thin films
Eiper, E., Martinschitz, K.-J. & Keckes, J., 2006, in: Powder diffraction. 21, S. 25-29Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Combined elastic strain and macroscopic stress characterization in polycrystalline Cu thin films
Eiper, E., Martinschitz, K.-J. & Keckes, J., 2005, in: Powder diffraction. 20, S. 1-5Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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In situ analysis of the effect of high heating rates and initial microstructure on the formation and homogeneity of austenite
Eggbauer, A., Lukas, M., Ressel, G., Prevedel, P., Mendez Martin, F., Keckes, J., Stark, A. & Ebner, R., 22 März 2019, in: Journal of materials science. 54.2019, 12, S. 9197-9212 16 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
