Size effect in metallic thin films characterized by low-temperature X-ray diffraction
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
Autoren
Organisationseinheiten
Details
| Titel in Übersetzung | Size effect in metallic thin films characterized by low-temperature X-ray diffraction |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Status | Veröffentlicht - 2006 |
| Veranstaltung | 55th Annual Denver X-ray Conference - Denver, USA / Vereinigte Staaten Dauer: 7 Aug. 2006 → 11 Aug. 2006 |
Konferenz
| Konferenz | 55th Annual Denver X-ray Conference |
|---|---|
| Land/Gebiet | USA / Vereinigte Staaten |
| Ort | Denver |
| Zeitraum | 7/08/06 → 11/08/06 |
