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Local gradients of microstructure and residual stresses in Si device sidewalls separated by laser dicing
Ziegelwanger, T., Meindlhumer, M., Todt, J., Reisinger, M., Matoy, K. & Keckes, J., 24 Apr. 2023.
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
Veröffentlicht
Backside metallization affects residual stress and bending strength of the recast layer in laser-diced Si
Ziegelwanger, T., Reisinger, M., Matoy, K., Medjahed, A. A., Zalesak, J., Gruber, M., Meindlhumer, M. & Keckes, J., Okt. 2024, in: Materials Science in Semiconductor Processing. 181, 108579.
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
20 kHz X-ray diffraction on Cu thin films explores thermomechanical fatigue at high strain-rates
Ziegelwanger, T., Reisinger, M., Vedad, B., Hlushko, K., Van Petegem, S., Todt, J., Meindlhumer, M. & Keckes, J., 31 Jan. 2025, in: Materials and Design. 251.2025, March, 9 S., 113664.
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Extraordinary high-temperature behavior of electrically conductive Hf₇B₂₃Si₂₂C₆N₄₀ ceramic film
Zeman, P., Zuzjaková, Čerstvý, R., Houška, J., Shen, Y., Todt, J., Jiang, J., Daniel, R., Keckes, J., Meletis, E. I. & Vlček, J., 15 Juni 2020, in: Surface and Coatings Technology. 391.2020, 15 June, 8 S., 125686.
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Resolving depth evolution of microstructure and hardness in sputtered CrN film
Zeilinger, A., Daniel, R., Schöberl, T., Stefenelli, M., Sartory, B., Keckes, J. & Mitterer, C., 2015, in: Thin solid films. 581.2015, April, S. 75-79
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Mechanical property enhancement in laminates through control of morphology and crystal orientation
Zeilinger, A., Daniel, R., Stefenelli, M., Sartory, B., Chitu, L., Burghammer, M., Schöberl, T., Kolednik, O., Keckes, J. & Mitterer, C., 2015, in: Journal of physics / D, Applied physics. 48, S. 2953031-2953039
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
In-situ Observation of Cross- Sectional Microstructural Changes and Stress Distributions in Fracturing TiN Thin Film during Nanoindentation
Zeilinger, A., Todt, J., Krywka, C., Müller, M., Ecker, W., Sartory, B., Meindlhumer, M., Stefenelli, M., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 7 März 2016, in: Scientific reports (London : Nature Publishing Group). 6:22670, S. 1-14 14 S.
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Nano-machining for advanced X-ray crystal optics
Záprazný, Z., Korytár, D., Jergel, M., Šiffalovič, P., Halahovets, Y., Keckes, J., Matko, I., Ferrari, C., Vagovič, P. & Mikloška, M., 2016.
Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Combinatorial refinement of thin-film microstructure, properties and process conditions: Iterative nanoscale search for self-assembled TiAlN nanolamellae
Zalesak, J., Todt, J., Pitonak, R., Köpf, A., Weißenbacher, R., Sartory, B., Burghammer, M., Daniel, R. & Keckes, J., 2016, in: Journal of applied crystallography. 49, 6, S. 2217-2225 9 S.
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
Peculiarity of self-assembled cubic nanolamellae in the TiN/AlN system: Epitaxial self-stabilization by element deficiency/excess
Zalesak, J., Holec, D., Matko, I., Petrenec, M., Sartory, B., Koutna, N., Daniel, R., Pitonak, R. & Keckes, J., 5 Apr. 2017, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Acta materialia. 131.2017, 1 June, S. 391-399 9 S.
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Extraordinary high-temperature behavior of electrically conductive Hf₇B₂₃Si₂₂C₆N₄₀ ceramic film

Resolving depth evolution of microstructure and hardness in sputtered CrN film

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In-situ Observation of Cross- Sectional Microstructural Changes and Stress Distributions in Fracturing TiN Thin Film during Nanoindentation

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