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  1. 2011
  2. Veröffentlicht

    Dislocation storage in single slip oriented Cu micro-tensile samples: New insights by X-ray microdiffraction

    Kirchlechner, C., Kiener, D., Motz, C., Labat, S., Vaxelaire, N., Perroud, O., Micha, J-S., Ulrich, O., Thomas, O., Dehm, G. & Keckes, J., 2011, in: Philosophical magazine. 91, S. 1256-1264

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  3. Veröffentlicht

    Effects of thermal annealing on the microstructure of sputtered Al2O3 coatings

    Edlmayr, V., Harzer, T. P., Hoffmann, R., Kiener, D., Scheu, C. & Mitterer, C., 2011, in: Journal of vacuum science & technology / A (JVST). S. 0415061-0415068

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Fabry-Pérot-Based Thin Film Structure Used as IR-Emitter of a NDIR Gas Sensor: Ray Tracing Simulations and Measurements

    Mayrwöger, J., Mitterer, C., Reichl, W., Krutzler, C. & Jakoby, B., 2011, Proceedings SPIE 8066. S. 80660K1-80660K10

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  5. Veröffentlicht

    Impact of instrumental constraints and imperfections on the dislocation structure in micron-sized Cu compression pillars

    Kirchlechner, C., Keckes, J., Motz, C., Grosinger, W., Kapp, M. W., Micha, J-S., Ulrich, O. & Dehm, G., 2011, in: Acta materialia. 59, S. 5618-5626

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    In Situ High Temperature X-Ray Diffraction Reveals Residual Stress Depth-Profiles in Blasted TiN Hard Coatings

    Bartosik, M., Pitonak, R. & Keckes, J., 2011, in: Advanced engineering materials. S. 705-711

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    In situ µLaue: Instrumental setup for the deformation of micron sized samples

    Kirchlechner, C., Keckes, J., Micha, J-S. & Dehm, G., 2011, in: Advanced engineering materials. 13, S. 837-844

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Local structure around nano-clay agglomerates in PP composites – a scanning X-Ray diffraction study with sub micron resolution

    Feuchter, M., Maier, G. A., Burghammer, M., Kracalik, M., Laske, S., Keckes, J. & Pinter, G., 2011, European Polymer Congress 2011. S. 515-515

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband

  9. Veröffentlicht

    Microstructure-property relations of reactively magnetron sputtered VCxNy films

    Mitterer, C., Fateh, N. & Munnik, F., 2011, in: Surface & coatings technology. S. 3805-3809

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Nano-Beam X-ray Diffraction as a Tool to Characterize Gradients of Microstructure and Residual Stress in Nanocrystalline Hard Coatings

    Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Schoeder, S., Burghammer, M. & Keckes, J., 2011.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  11. Veröffentlicht

    Nano-beam-x-ray diffraction reveals strain, composition, texture and crystal size gradients across nano-crystalline thin films

    Keckes, J., Daniel, R., Bartosik, M., Mitterer, C., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2011, Proceeding of International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 55-55

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