Dislocation storage in single slip oriented Cu micro-tensile samples: New insights by X-ray microdiffraction

Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

Autoren

  • Christian Motz
  • S. Labat
  • N. Vaxelaire
  • O. Perroud
  • J.-S. Micha
  • O. Ulrich
  • O. Thomas

Organisationseinheiten

Details

Titel in ÜbersetzungDislocation storage in single slip oriented Cu micro-tensile samples: New insights by X-ray microdiffraction
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)1256-1264
FachzeitschriftPhilosophical magazine
Jahrgang91
DOIs
StatusVeröffentlicht - 2011