Dislocation storage in single slip oriented Cu micro-tensile samples: New insights by X-ray microdiffraction
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Standard
in: Philosophical magazine, Jahrgang 91, 2011, S. 1256-1264.
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Harvard
APA
Vancouver
Author
Bibtex - Download
}
RIS (suitable for import to EndNote) - Download
TY - JOUR
T1 - Dislocation storage in single slip oriented Cu micro-tensile samples: New insights by X-ray microdiffraction
AU - Kirchlechner, Christoph
AU - Kiener, Daniel
AU - Motz, Christian
AU - Labat, S.
AU - Vaxelaire, N.
AU - Perroud, O.
AU - Micha, J.-S.
AU - Ulrich, O.
AU - Thomas, O.
AU - Dehm, Gerhard
AU - Keckes, Jozef
PY - 2011
Y1 - 2011
U2 - 10.1080/14786431003785639
DO - 10.1080/14786431003785639
M3 - Article
VL - 91
SP - 1256
EP - 1264
JO - Philosophical magazine
JF - Philosophical magazine
SN - 0031-8086
ER -