In Situ High Temperature X-Ray Diffraction Reveals Residual Stress Depth-Profiles in Blasted TiN Hard Coatings
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Details
| Titel in Übersetzung | In Situ High Temperature X-Ray Diffraction Reveals Residual Stress Depth-Profiles in Blasted TiN Hard Coatings |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Seiten (von - bis) | 705-711 |
| Fachzeitschrift | Advanced engineering materials |
| Status | Veröffentlicht - 2011 |
