Juraj Todt
Publikationen
- 2016
- Veröffentlicht
In-situ Observation of Cross- Sectional Microstructural Changes and Stress Distributions in Fracturing TiN Thin Film during Nanoindentation
Zeilinger, A., Todt, J., Krywka, C., Müller, M., Ecker, W., Sartory, B., Meindlhumer, M., Stefenelli, M., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 7 März 2016, in: Scientific reports (London : Nature Publishing Group). 6:22670, S. 1-14 14 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Al-rich cubic Al0.8Ti0.2N coating with self-organized nano-lamellar microstructure: Thermal and mechanical properties
Todt, J., Zalesak, J., Daniel, R., Pitonak, R., Köpf, A., Weißenbacher, R., Sartory, B., Mitterer, C. & Keckes, J., 2016, in: Surface & coatings technology. 291, S. 89-93 5 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Combinatorial refinement of thin-film microstructure, properties and process conditions: Iterative nanoscale search for self-assembled TiAlN nanolamellae
Zalesak, J., Todt, J., Pitonak, R., Köpf, A., Weißenbacher, R., Sartory, B., Burghammer, M., Daniel, R. & Keckes, J., 2016, in: Journal of applied crystallography. 49, 6, S. 2217-2225 9 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Integrated experimental and computational approach for residual stress investigation near through-silicon vias
Deluca, M., Hammer, R., Keckes, J., Kraft, J., Schrank, F., Todt, J., Robach, O., Micha, J. S. & Defregger, S., 2016, in: Journal of applied physics. 120, 19Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Nanoscale Investigations of Performance-critical Regions in Non-homogeneous Metallic and Ceramic Thin Films
Todt, J., 2016Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
- Veröffentlicht
Nanostructured CVD coatings and cemented carbides-A perfect match?
Köpf, A., Keckes, J., Todt, J., Pitonak, R. & Weissenbacher, R., 2016, World PM 2016 Congress and Exhibition.Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
- Veröffentlicht
X-ray nanodiffraction analysis of stress oscillations in a W thin film on through-silicon via
Todt, J., Hammer, H., Sartory, B., Burghammer, M., Kraft, J., Daniel, R., Keckes, J. & Defregger, S., 2016, in: Journal of applied crystallography. 49, S. 182-187 6 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2015
- Veröffentlicht
Software Package to evaluate two-dimensional X-ray nanodiffraction data from thin films
Keckes, J., Stefenelli, M., Todt, J., Mitterer, C., Daniel, R. & Keckes, J., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Thermal expansion of rock-salt cubic AlN
Bartosik, M., Todt, M., Holec, D., Todt, J., Zhou, L., Riedl, H., Böhm, H. J., Rammerstorfer, F. G. & Mayerhofer, P. H., 2015, in: Applied physics letters. 107, S. 071602-1 - 071602-5Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
X-ray nanodiffraction reveals stress distribution across an indented multilayered CrN-Cr thin film
Steffenelli, M., Daniel, R., Ecker, W., Kiener, D., Todt, J., Zeilinger, A., Mitterer, C., Burghammer, M. & Keckes, J., 2015, in: Acta materialia. 85, S. 24-31Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
