Jozef Keckes
Publikationen
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Bias- and temperature-dependent strain evolution across nanocrystalline TiAlN films studied by X-ray nanodiffraction
Riedl, A., Todt, J., Daniel, R., Steffenelli, M., Holec, D., Krywka, C., Mitterer, C. & Keckes, J., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Backside metallization affects residual stress and bending strength of the recast layer in laser-diced Si
Ziegelwanger, T., Reisinger, M., Matoy, K., Medjahed, A. A., Zalesak, J., Gruber, M., Meindlhumer, M. & Keckes, J., Okt. 2024, in: Materials Science in Semiconductor Processing. 181, 108579.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
Axially and radially inhomogeneous swelling in commercial 18650 Li-ion battery cells
Blazek, P., Westenberger, P., Erker, S., Brinek, A., Zikmund, T., Rettenwander, D., Wagner, N. P., Keckes, J., Kaiser, J., Kazda, T., Vyroubal, P., Macak, M. & Todt, J., 27 Mai 2022, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Journal of energy storage. 52.2022, 15 August, 10 S., 104563.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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A two-dimensional waveguide beam for X-ray nanodiffraction
Krywka, C., Neubauer, H., Priebe, M., Salditt, T., Keckes, J., Buffet, A., Roth, S. V., Doehrmann, R. & Mueller, M., 2012, in: Journal of applied crystallography. 45.20212 , Part 1, S. 85-92 8 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Atomic origin for rejuvenation of a Zr-based metallic glass at cryogenic temperature
Bian, X. L., Wang, G., Yi, J., Jia, Y. D., Bednarčík, J., Zhai, Q. J., Kaban, I., Sarac, B., Mühlbacher, M., Spieckermann, F., Keckes, J. & Eckert, J., 25 Sept. 2017, in: Journal of alloys and compounds. 718.2017, 25 September, S. 254-259 6 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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A novel approach for determining fracture toughness of hard coatings on the micrometer scale
Riedl, A., Daniel, R., Steffenelli, M., Schöberl, T., Kolednik, O., Mitterer, C. & Keckes, J., 2012, in: Scripta materialia. 67, S. 708-711Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Annealing of intrinsic stresses in sputtered TiN films: The role of thickness-dependent gradients of point defect density
Köstenbauer, H., Fontalvo, G., Kapp, M., Keckes, J. & Mitterer, C., 2007, in: Surface & coatings technology. 201, S. 4777-4780Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Annealing-assisted high-pressure torsion in Zr55Cu30Al10Ni5 metallic glass
Sarac, B., Spieckermann, F., Rezvan, A., Gammer, C., Krämer, L., Kim, J. T., Keckes, J., Pippan, R. & Eckert, J., 5 Mai 2019, in: Journal of alloys and compounds. 784.2019, S. 1323-1333 11 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Anisotropy of fracture toughness in nanostructured ceramics controlled by grain boundary design
Daniel, R., Meindlhumer, M., Baumegger, W., Todt, J., Zalesak, J., Ziegelwanger, T., Mitterer, C. & Keckes, J., 2019, in: Materials and Design. 161.2019, January, S. 80-85 6 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Anisotropic intrinsic and extrinsic stresses in gan thin film on LiAlO2 (100)
Eiper, E., Gerlach, J. W., Rauschenbach, B. & Keckes, J., 2004.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
