Jozef Keckes
Publikationen
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Sample tilt-free characterization of residual stress gradients in thin coatings using an in-plane arm-equipped laboratory X-ray diffractometer
Benediktovitch, A. I., Ulyanenkova, T., Keckes, J. & Ulyanenkov, A. P., 2014, in: Journal of applied crystallography. S. 1931-938Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Cross-sectional X-ray nanobeam diffraction analysis of a compositionally graded CrNx thin film
Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Matko, I., Burghammer, M., Mayrhofer, P. H. & Keckes, J., 2013, in: Thin solid films. 542, S. 1-4Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Thermally-induced formation of hexagonal AlN in AlCrN hard coatings on sapphire: Orientation relationships and residual stresses
Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2010, in: Surface & coatings technology. 205, S. 1320-1323Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Lateral gradients of phases, residual stress and hardness in a laser heated Ti0.52Al0.48N coating on hard metal
Bartosik, M., Daniel, R., Zhang, Z., Deluca, M., Ecker, W., Steffenelli, M., Klaus, M., Genzel, C., Stefenelli, M., Mitterer, C. & Keckes, J., 2012, in: Surface & coatings technology. 206, S. 4502-4510 9 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Thermal expansion of Ti-Al-N and Cr-Al-N coatings
Bartosik, M., Holec, D., Apel, D., Klaus, M., Genzel, C., Keckes, J., Arndt, M., Polcik, P., Koller, C. M. & Mayrhofer, P. H., 2017, in: Scripta materialia. 127.2017, 15 January, S. 182-185 4 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Nano-Beam X-ray Diffraction as a Tool to Characterize Gradients of Microstructure and Residual Stress in Nanocrystalline Hard Coatings
Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Schoeder, S., Burghammer, M. & Keckes, J., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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In Situ High Temperature X-Ray Diffraction Reveals Residual Stress Depth-Profiles in Blasted TiN Hard Coatings
Bartosik, M., Pitonak, R. & Keckes, J., 2011, in: Advanced engineering materials. S. 705-711Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Thermal Decomposition of Epitaxial Al-Cr-N Hard Coatings: Crystallography and Mechanical State of Individual Phases
Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2010, Proceedings 37th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 63-63Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Interface controlled microstructure evolution in nanolayered thin films
Bartosik, M., Keckes, J., Persson, P. O. Å., Riedl, H. & Mayrhofer, P. H., 2016, in: Scripta materialia. 123, S. 13-16 4 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Nano/macro-hardness and fracture resistance of Si3N4/SiC composites with up to 13 wt.% of SiC nano-particles
Balog, M., Keckes, J., Schöberl, T., Galusek, D., Hofer, F., Krest'an, J., Lences, Z., Huang, J. L. & Sajgalik, P., 2007, in: Journal of the European Ceramic Society. 27, S. 2145-2152Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
