Sample tilt-free characterization of residual stress gradients in thin coatings using an in-plane arm-equipped laboratory X-ray diffractometer
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Details
| Titel in Übersetzung | Sample tilt-free characterization of residual stress gradients in thin coatings using an in-plane arm-equipped laboratory X-ray diffractometer |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Seiten (von - bis) | 1931-938 |
| Fachzeitschrift | Journal of applied crystallography |
| DOIs | |
| Status | Veröffentlicht - 2014 |
