Jozef Keckes
Publikationen
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In-situ WAXS studies of structural changes in wood foils and in individual wood cells during microtrensile tests
Keckes, J., Burgert, I., Müller, M., Kölln, K., Hamilton, M., Burghammer, M., Roth, S. V., Stanzl-Tschegg, S. E. & Fratzl, P., 2005, in: Fibre diffraction review. S. 48-51Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Simultaneous determination of experimental elastic and thermal strains in thin films
Keckes, J., 2005, in: Journal of applied crystallography. 38, S. 311-318Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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In situ X-ray Diffraction as a tool to probe mechanical phenomena down to the nano-scale
Keckes, J., Eiper, E., Martinschitz, K. J., Boesecke, P., Gindl, W. & Dehm, G., 2006, in: Advanced engineering materials. S. 1084-1088Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Temperature dependence of in-plane stresses in sublayers of Al/AlN/Al2O3(0 0 0 1) structure
Keckes, J., Six, S., Gerlach, J. W. & Rauschenbach, B., 2004, in: Journal of crystal growth. 262, S. 119-123Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Nano-Beam X-ray Diffraction Reveals Structural and Mechanical Gradients in Nano-Crystalline Thin Films
Keckes, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Maier, G., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Structural changes in cyclically deformed cellulosics characterized by in situ synchrotron X-ray diffraction coupled with tensile tests
Keckes, J., Boesecke, P. & Gindl, W., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Eigenspannungs-Charakterisierung mittels Röntgendiffraktometrie
Keckes, J. & Eiper, E., 2005, Handbuch der Nanoanalytik. S. 147-149Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
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Nano-beam-x-ray diffraction reveals strain, composition, texture and crystal size gradients across nano-crystalline thin films
Keckes, J., Daniel, R., Bartosik, M., Mitterer, C., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2011, Proceeding of International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 55-55Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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High-temperature residual stresses in thin films characterized by x-ray diffraction substrate curvature method
Keckes, J., Eiper, E., Martinschitz, K. J., Köstenbauer, H., Daniel, R. & Mitterer, C., 2007, in: Review of scientific instruments. 78, S. 036103-01-036103-03Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Microfibril angle in wood: characterisation using X-ray scattering and influence on mechanical properties
Keckes, J., Burgert, I., Lichtenegger, H., Reiterer, A., Stanzl-Tschegg, S. & Fratzl, P., 2004, Proceedings of COST Action E20, Wood Fibre Cell Wall Structure. S. 189-202Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
