In situ X-ray Diffraction as a tool to probe mechanical phenomena down to the nano-scale

Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

Autoren

  • Ernst Eiper
  • Klaus Jürgen Martinschitz
  • P. Boesecke
  • Wolfgang Gindl

Organisationseinheiten

Details

Titel in ÜbersetzungIn situ X-ray Diffraction as a tool to probe mechanical phenomena down to the nano-scale
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)1084-1088
Fachzeitschrift Advanced engineering materials
StatusVeröffentlicht - 2006