Jozef Keckes
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Publikationen
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Nano-machining for advanced X-ray crystal optics
Záprazný, Z., Korytár, D., Jergel, M., Šiffalovič, P., Halahovets, Y., Keckes, J., Matko, I., Ferrari, C., Vagovič, P. & Mikloška, M., 2016.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
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Resolving depth evolution of microstructure and hardness in sputtered CrN film
Zeilinger, A., Daniel, R., Schöberl, T., Stefenelli, M., Sartory, B., Keckes, J. & Mitterer, C., 2015, in: Thin solid films. 581.2015, April, S. 75-79Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Mechanical property enhancement in laminates through control of morphology and crystal orientation
Zeilinger, A., Daniel, R., Stefenelli, M., Sartory, B., Chitu, L., Burghammer, M., Schöberl, T., Kolednik, O., Keckes, J. & Mitterer, C., 2015, in: Journal of physics / D, Applied physics. 48, S. 2953031-2953039Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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In-situ Observation of Cross- Sectional Microstructural Changes and Stress Distributions in Fracturing TiN Thin Film during Nanoindentation
Zeilinger, A., Todt, J., Krywka, C., Müller, M., Ecker, W., Sartory, B., Meindlhumer, M., Stefenelli, M., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 7 März 2016, in: Scientific reports (London : Nature Publishing Group). 6:22670, S. 1-14 14 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Extraordinary high-temperature behavior of electrically conductive Hf7B23Si22C6N40 ceramic film
Zeman, P., Zuzjaková, Čerstvý, R., Houška, J., Shen, Y., Todt, J., Jiang, J., Daniel, R., Keckes, J., Meletis, E. I. & Vlček, J., 15 Juni 2020, in: Surface and Coatings Technology. 391.2020, 15 June, 8 S., 125686.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Local gradients of microstructure and residual stresses in Si device sidewalls separated by laser dicing
Ziegelwanger, T., Meindlhumer, M., Todt, J., Reisinger, M., Matoy, K. & Keckes, J., 24 Apr. 2023.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
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Backside metallization affects residual stress and bending strength of the recast layer in laser-diced Si
Ziegelwanger, T., Reisinger, M., Matoy, K., Medjahed, A. A., Zalesak, J., Gruber, M., Meindlhumer, M. & Keckes, J., Okt. 2024, in: Materials Science in Semiconductor Processing. 181, 108579.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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20 kHz X-ray diffraction on Cu thin films explores thermomechanical fatigue at high strain-rates
Ziegelwanger, T., Reisinger, M., Vedad, B., Hlushko, K., Van Petegem, S., Todt, J., Meindlhumer, M. & Keckes, J., 31 Jan. 2025, in: Materials and Design. 251.2025, March, 9 S., 113664.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
