Ion-assisted MBE for misfit-dislocation templates serving ordered growth of SiGe islands

Lyutovich, K., Oehme, M., Werner, J., Bahouchi, B., Kasper, E., Hofer, C. & Teichert, C., 2008, in: Thin solid films. 517, S. 20-22

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Ion irradiation-induced localized stress relaxation in W thin film revealed by cross-sectional X-ray nanodiffraction

Hlushko, K., Mackova, A., Zalesak, J., Burghammer, M., Davydok, A., Krywka, C., Daniel, R., Keckes, J. & Todt, J., 7 Feb. 2021, in: Thin solid films. 722.2021, 31 March, 6 S., 138571.

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Low Friction CrN/TiN multilayer coatings prepared by a hybrid high power impulse magnetron sputtering/DC magnetron sputtering deposition technique

Paulitsch, J., Schenkel, M., Schintlmeister, A., Hutter, H. & Mayrhofer, P. H., 2010, in: Thin solid films. 518, S. 5553-5557

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Mechanical properties of homogeneous and nitrogen graded TiN thin films

Silva, F. C., Tunes, M. A., Sagás, J. C., Fontana, L. C., de Lima, N. B. & Schön, C. G., 30 Sept. 2020, in: Thin solid films. 710, S. 138268 1 S., 138268.

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Micro- and bonding structure of arc-evaporated AlCrVN low-friction coatings

Franz, R., Neidhardt, J., Sartory, B., Tessadri, R. & Mitterer, C., 2008, in: Thin solid films. 516, S. 6151-6157

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Micron-sized fracture experiments on amorphous SiOx films and SiOx/SiNx multi-layers

Matoy, K., Schönherr, H., Detzel, T. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films. 518, S. 5796-5801

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Microstructural influence on the cyclic electro-mechanical behaviour of ductile films on polymer substrates

Cordill, M., Glushko, O., Kleinbichler, A., Putz, B., Többens, D. & Kirchlechner, C., 17 Sept. 2017, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Thin solid films. 644.2017, 31. December, S. 166-172 7 S.

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Microstructure and physical properties of sputter-deposited Cu-Mo thin films

Souli, I., Terziyska, V., Zechner, J. & Mitterer, C., 2018, in: Thin solid films. S. 301-308

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Microstructure and stress gradients in TiW thin films characterized by 40 nm X-ray diffraction and transmission electron microscopy

Saghaeian, F., Keckes, J., Woehlert, S., Rosenthal, M., Reisinger, M. & Todt, J., 14 Okt. 2019, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Thin solid films. 691.2019, 1 December, 7 S., 137576.

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Microstructure and thermal stability of corundum-type (Al0.5Cr0.5)2O3 solid solution coatings grown by cathodic arc evaporation

Edlmayr, V., Pohler, M., Letovsky-Papst, I. & Mitterer, C., 2013, in: Thin solid films. 534, S. 373-379

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