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  1. 2010
  2. Veröffentlicht

    Nano-Beam X-ray Diffraction Reveals Structural and Mechanical Gradients in Nano-Crystalline Thin Films

    Keckes, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Maier, G., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2010.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Residual stresses and thermal fatigue in CrN hard coatings characterized by high-temperature synchrotron X-ray diffraction

    Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Klaus, M., Genzel, C., Mitterer, C. & Keckes, J., 2010, in: Thin solid films. 518, 8, S. 2090-2096

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Stress, Sheet Resistance, and Microstructure Evolution of Electroplated Cu Films During Self-Annealing

    Huang, R., Robl, W., Ceric, H., Detzel, T. & Dehm, G., 2010, in: IEEE transactions on device and materials reliability. 10, 1, S. 47-54

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using C S-corrected HRTEM

    Cazottes, S., Zhang, Z. L., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using CS-corrected HRTEM

    Cazottes, S., Zhang, Z., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films. 519, S. 1662-1667

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Study of nanometer-scaled lamellar microstructure in a Ti-45Al-7.5Nb alloy-Experiments and modeling

    Fischer, F. D., Waitz, T., Scheu, C., Cha, L., Dehm, G., Antretter, T. & Clemens, H., 2010, in: Intermetallics. 18, S. 509-517

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Testing the Application of the Shear Lag Approximation to Thin Films on Cu and Polymer Substrates

    Taylor, A., Cordill, M., Edlmayr, V., Raj, R. & Dehm, G., 2010.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht

    The effect of pulsed biasing on the microstructure and mechanical properties of sputtered TiB2 coatings

    Grasser, S., Daniel, R. & Mitterer, C., 2010, Proceedings 12th International Conference on Plasma Surface Engineering. S. 389-389

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband

  10. Veröffentlicht

    The effect of pulsed biasing on the microstructure and mechanical properties of sputtered TiB2 coatings

    Grasser, S., Daniel, R. & Mitterer, C., 2010.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  11. Veröffentlicht

    The origin of stresses in magnetron-sputtered thin films with zone T structures

    Daniel, R., Martinschitz, K., Keckes, J. & Mitterer, C., 2010, in: Acta materialia. 58, S. 2621-2633

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

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