Tobias Ziegelwanger

Publikationen

  1. Veröffentlicht
  2. Veröffentlicht

    Local gradients of microstructure and residual stresses in Si device sidewalls separated by laser dicing

    Ziegelwanger, T., Meindlhumer, M., Todt, J., Reisinger, M., Matoy, K. & Keckes, J., 24 Apr. 2023.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung

  3. Veröffentlicht

    20 kHz X-ray diffraction on Cu thin films explores thermomechanical fatigue at high strain-rates

    Ziegelwanger, T., Reisinger, M., Vedad, B., Hlushko, K., Van Petegem, S., Todt, J., Meindlhumer, M. & Keckes, J., 31 Jan. 2025, in: Materials and Design. 251.2025, March, 9 S., 113664.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

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