Rostislav Daniel
Publikationen
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Microstructure related stress state in magnetron sputtered thin films
Daniel, R., Martinschitz, K., Keckes, J. & Mitterer, C., 2009, Proceedings E-MRS Spring Meeting. S. 25-25Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Mono-textured nanocrystalline thin films with pronounced stress-gradients: On the role of grain boundaries in the stress evolution
Daniel, R., Jäger, E., Todt, J., Sartory, B., Mitterer, C. & Keckes, J., 28 Mai 2014, in: Journal of applied physics. 115, 20, 203507.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Multi-scale interface design of strong and damage resistant hierarchical nanostructured materials
Daniel, R., Meindlhumer, M., Zalesak, J., Baumegger, W., Todt, J., Ziegelwanger, T., Keckes, J., Mitterer, C. & Keckes, J., Nov. 2020, in: Materials and Design. 196, November, S. 1-11 109169.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Nano-Beam X-ray Diffraction as a Tool to Characterize Gradients of Microstructure and Residual Stress in Nanocrystalline Hard Coatings
Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Schoeder, S., Burghammer, M. & Keckes, J., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Nano-beam-x-ray diffraction reveals strain, composition, texture and crystal size gradients across nano-crystalline thin films
Keckes, J., Daniel, R., Bartosik, M., Mitterer, C., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2011, Proceeding of International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 55-55Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Nano-Beam X-ray Diffraction Reveals Structural and Mechanical Gradients in Nano-Crystalline Thin Films
Keckes, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Maier, G., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Nanocomposite CrC/a-C:H coatings for automative applications
Mitterer, C., Gassner, G., Scheu, C., Lechtahler, M., Mayrhofer, P. H. & Daniel, R., 2007, 34 th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 113-113Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Nanoindentation characterization of a Cr/CrN dual layer coating system
Daniel, R. & Mitterer, C., 2007, 3rd International Indentation Workshop. S. 36-36Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Nanoscale residual stress and microstructure gradients across the cutting edge area of a TiN coating on WC –Co
Meindlhumer, M., Jäger, N., Spor, S., Rosenthal, M., Keckes, J., Hruby, H., Mitterer, C., Daniel, R., Keckes, J. & Todt, J., 29 Feb. 2020, in: Scripta materialia. 182.2020, June, S. 11-15 5 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Nanoscale residual stress depth profiling by focused ion beam milling and eigenstrain analysis
Korsunsky, A. M., Salvati, E., Lunt, A. G. J., Sui, T., Mughal, Z. M., Daniel, R., Keckes, J., Bemporad, E. & Sebastiani, M., 2018, in: Materials and Design. 145, S. 55-64Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)