Nanoscale residual stress depth profiling by focused ion beam milling and eigenstrain analysis
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- Università degli studi Roma Tre
- Universität Oxford
Details
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | 55-64 |
| Fachzeitschrift | Materials and Design |
| Jahrgang | 145 |
| DOIs | |
| Status | Veröffentlicht - 2018 |
