Rostislav Daniel
Publikationen
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Combinatorial refinement of thin-film microstructure, properties and process conditions: Iterative nanoscale search for self-assembled TiAlN nanolamellae
Zalesak, J., Todt, J., Pitonak, R., Köpf, A., Weißenbacher, R., Sartory, B., Burghammer, M., Daniel, R. & Keckes, J., 2016, in: Journal of applied crystallography. 49, 6, S. 2217-2225 9 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Peculiarity of self-assembled cubic nanolamellae in the TiN/AlN system: Epitaxial self-stabilization by element deficiency/excess
Zalesak, J., Holec, D., Matko, I., Petrenec, M., Sartory, B., Koutna, N., Daniel, R., Pitonak, R. & Keckes, J., 5 Apr. 2017, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Acta materialia. 131.2017, 1 June, S. 391-399 9 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Resolving depth evolution of microstructure and hardness in sputtered CrN film
Zeilinger, A., Daniel, R., Schöberl, T., Stefenelli, M., Sartory, B., Keckes, J. & Mitterer, C., 2015, in: Thin solid films. 581.2015, April, S. 75-79Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Mechanical property enhancement in laminates through control of morphology and crystal orientation
Zeilinger, A., Daniel, R., Stefenelli, M., Sartory, B., Chitu, L., Burghammer, M., Schöberl, T., Kolednik, O., Keckes, J. & Mitterer, C., 2015, in: Journal of physics / D, Applied physics. 48, S. 2953031-2953039Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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In-situ Observation of Cross- Sectional Microstructural Changes and Stress Distributions in Fracturing TiN Thin Film during Nanoindentation
Zeilinger, A., Todt, J., Krywka, C., Müller, M., Ecker, W., Sartory, B., Meindlhumer, M., Stefenelli, M., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 7 März 2016, in: Scientific reports (London : Nature Publishing Group). 6:22670, S. 1-14 14 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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High-temperature oxidation resistance of Ta-Si-N films with a high Si content
Zeman, P., Musil, J. & Daniel, R., 2006, in: Surface & coatings technology.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Extraordinary high-temperature behavior of electrically conductive Hf7B23Si22C6N40 ceramic film
Zeman, P., Zuzjaková, Čerstvý, R., Houška, J., Shen, Y., Todt, J., Jiang, J., Daniel, R., Keckes, J., Meletis, E. I. & Vlček, J., 15 Juni 2020, in: Surface and Coatings Technology. 391.2020, 15 June, 8 S., 125686.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Atomic and electronic characterization on the CrN/Cr/Si interfaces using CS-corrected HRTEM
Zhang, Z., Daniel, R. & Mitterer, C., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Advanced characterisation of the Cu-MgO interface structure by Cs-corrected high-resolution transmission electron microscopy
Zhang, Z., Daniel, R., Dehm, G. & Mitterer, C., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Comparative studies of the CrN-Cr-Si an d CrN-Si interfaces by Cs-corrected HRTEM and STEM-EELS
Zhang, Z., Daniel, R. & Mitterer, C., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
