Atomic and electronic characterization on the CrN/Cr/Si interfaces using CS-corrected HRTEM
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
Autoren
Organisationseinheiten
Details
| Titel in Übersetzung | Atomic and electronic characterization on the CrN/Cr/Si interfaces using CS-corrected HRTEM |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Status | Veröffentlicht - 2011 |
| Veranstaltung | Microscopy Conference (MC2011) - Kiel, Deutschland Dauer: 28 Aug. 2011 → 2 Sept. 2011 |
Konferenz
| Konferenz | Microscopy Conference (MC2011) |
|---|---|
| Land/Gebiet | Deutschland |
| Ort | Kiel |
| Zeitraum | 28/08/11 → 2/09/11 |
