Comparative studies of the CrN-Cr-Si an d CrN-Si interfaces by Cs-corrected HRTEM and STEM-EELS

Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

Details

Titel in ÜbersetzungComparative studies of the CrN-Cr-Si an d CrN-Si interfaces by Cs-corrected HRTEM and STEM-EELS
OriginalspracheEnglisch
StatusVeröffentlicht - 2011
Veranstaltung10th Multinational Congress on Microscopy 2011 - Urbino, Italien
Dauer: 4 Sept. 20119 Sept. 2011

Konferenz

Konferenz10th Multinational Congress on Microscopy 2011
Land/GebietItalien
OrtUrbino
Zeitraum4/09/119/09/11