Paul Angerer
(Ehemalig)
1 - 3 von 3Seitengröße: 10
Publikationen
- 2020
- Veröffentlicht
Transient phase fraction and dislocation density estimation from in-situ X-ray diffraction data with a low signal-to-noise ratio using a Bayesian approach to the Rietveld analysis
Wiessner, M., Angerer, P., van der Zwaag, S. & Gamsjäger, E., 25 Dez. 2020, in: Materials characterization. 172.2021, February, 9 S., 110860.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2016
- Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
Curvature determination of embedded silicon chips by in situ rocking curve X-ray diffraction measurements at elevated temperatures
Angerer, P., Schöngrundner, R., Macurova, K., Wießner, M. & Keckes, J., 28 Sept. 2016, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Powder diffraction. 31.2016, 4, S. 267-273 7 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Thermal stability of residual stresses in Ti-6Al-4V components
Stanojevic, A., Angerer, P. & Oberwinkler, B., 14 Apr. 2016, in: IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. 119, 1, 012007.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzartikel › (peer-reviewed)
