Markus Kratzer
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Publikationen
- 2012
- Veröffentlicht
Wzrost molekul para-sexiphenylu na zmodykowanej wiazka jonowa powierzchni TiO2 (110)
Wrana, D., Kratzer, M., Teichert, C. & Krok, F., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- 2011
- Veröffentlicht
Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy
Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Lechner, R., Teichert, C., Motz, C., Anwand, W., Brauer, G., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djuricis, A., 2011, in: Journal of applied physics. 110, S. 052005-1-052005-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Electrical Transport in Individual ZnO Nanorods Studied by Photo-Conductive Atomic-Force Microscopy
Kratzer, M., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Electrical Transport of Single ZnO Nanorods studied by Photo- Conductive AFM
Kratzer, M., Beinik, I., Teichert, C., Brauer, G., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djuricis, A., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- 2010
- Veröffentlicht
AFM based morphological and electrical characterization of hot wall epitaxy grown 6P/SiO2
Kratzer, M., Klima, S., Beinik, I., Shen, Q., Lugstein, A. & Teichert, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
A theoretical study of Zn adsorption and desorption on a Pd(111) substrate
Koch, H. P., Bako, I., Weirum, G., Kratzer, M. & Schennach, R., 2010, in: Surface Science. 604, S. 926-931Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Combined C-AFM/PFM investigations of ZnO nanorods
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Complementary electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge: KPFM and C-AFM exploration
Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Rey-Stolle, I., Algora, C., Tejedor, P. & Teichert, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Domain Orientation Characterization of Para-sexiphenyl and Tiophene based SAM Films by Transverse Shear Microscopy
Shen, Q., Hlawacek, G., Kratzer, M., Flesch, H.-G., Potocar, T., Resel, R., Winkler, A. & Teichert, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Electrical, electro-mechanical and opto-electronical properties of ZnO nanorods studied by AFM technique
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
