Domain Orientation Characterization of Para-sexiphenyl and Tiophene based SAM Films by Transverse Shear Microscopy
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Autoren
Organisationseinheiten
Details
| Titel in Übersetzung | Domain Orientation Characterization of Para-sexiphenyl and Tiophene based SAM Films by Transverse Shear Microscopy |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Status | Veröffentlicht - 2010 |
| Veranstaltung | International Workshop on In situ characterization of near-surface processes - Eisenerz, Österreich Dauer: 30 Mai 2010 → 3 Juni 2010 |
Konferenz
| Konferenz | International Workshop on In situ characterization of near-surface processes |
|---|---|
| Land/Gebiet | Österreich |
| Ort | Eisenerz |
| Zeitraum | 30/05/10 → 3/06/10 |
